XDL系列采用能量色散X射線熒光（EDXRF）技術(shù)，通過(guò)高穩(wěn)定性微型X射線管激發(fā)樣品表面，使待測(cè)元素產(chǎn)生特征X射線熒光。探測(cè)器接收并分析不同元素的特征譜線能量與強(qiáng)度，結(jié)合菲希爾有的FISCHERSCOPE®分析軟件，實(shí)現(xiàn)對(duì)鍍層厚度及成分的精確反演計(jì)算。

應(yīng)用領(lǐng)域

電鍍與表面處理：精確測(cè)量Ni、Cr、Au、Ag、Sn、Zn、Cu等單層或多層金屬鍍層厚度。

PCB與半導(dǎo)體：檢測(cè)焊盤(pán)鍍金、OSP涂層、ENIG（化學(xué)鎳金）等關(guān)鍵工藝參數(shù)。

汽車(chē)零部件：評(píng)估發(fā)動(dòng)機(jī)部件、緊固件、連接器的防腐鍍層質(zhì)量。

珠寶與貴金屬：無(wú)損鑒定K金純度、鍍層厚度及合金成分。

德國(guó)菲希爾XDL系列X射線熒光測(cè)厚儀集精密光學(xué)、先進(jìn)探測(cè)技術(shù)與智能軟件于一體，代表了當(dāng)前非破壞性涂層分析較高水平。